Chroma 7505 半导体封装光学量测系统同时配备电动调整移动平台，可对样品做自动调平及定位。垂直与水平轴向扫描范围大，适合各种自动量测之应用，待测物皆不需...

Chroma 3813 触碰面板多点半自动测试机是一款新型的触控面板线性测试机。3813 可测试数位式电阻与数位式电容面板以及传统式电阻与传统式电容面板，测试机...

Chroma 3260C 三温系统板测试分类机是一台全新搭载Chroma混合制冷机（Hybr id Chi l ler）的系统板三温测试分类机（SLT Hand...

Chroma 3280 测试分类机为所有的SD卡类产品带来了一 个创新的测试方法，而这高效率的测试方法也为 客户带来大幅降低生产成本的好处。此外，小机 台的设计...

Chroma 3240 自动化系统功能测试机是一款新型的测试机可供多组PCB level平行测试的大量生产机具。3240可配合多数不同的封装类型包括传统的QFP...

Chroma 3240-Q 无线射频分类机也可依据测试需求支援各种不同类型封装的晶片。具有自动送料/分料盘设计, 3240-Q适 用于JEDEC和EIA料盘规范...

Chroma 3180 八站逻辑测试分类机有着高可靠性的处理机制可依据测试需求支援各种不同类型封装的晶片，且能与通用生产治具 相容，顺畅的自动化技术满足高产能和...

Chroma 3160C 三温四站终端测试分类机是一台可提供大量且多个IC测试的分类机。该设备可提供多种封装方试的IC测试，且支持1/2/4 sites的测试需...

Chroma 3160终端测试分类机是一系列适合量产、高产出、多平行测试站点的高速IC测试分类机。此系列分类机运用Pick & Place技术，能够配合多种封装...

Chroma 3112 晶片测试分类机其高效率的模组化设计与精准的机构传动 结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要 求，多重检查功能装置可降低待测物...

Chroma 3111 桌上型单站测试分类机具备远端功能可于任何地点 透过网路连接方式进行控制，3111可用软体设 定JEDEC料盘的分配以及进行工程测试，在6...

Chroma HDAVO 高性能混和讯号解决方案具有任意波形发生器（awg）和 digi zer （dgt）功能。 该模块的仪器板上有8个 awg 和8个数字化...

Chroma 36010 高精准可程控逻辑脚位模块提供17种以上的 sequence 指令，包括 jump、match、 loop、 repeat等，可以控制p...

Chroma 3650-CX SoC测试系统的软体测试环境CRISP （ Chroma Integrated Software Platform），是一个结合工...

Chroma 3650-EX SoC/Aanlog测试系统在设计其架构时，应用* 的规划，具备AD/DA转换器测试模组、ALPG记 忆体测试模组、高电压PE输出...

致茂 Model 3680 *SoC/模拟测试系统提供灵活的配置和广泛的覆盖范围，以高度兼容性测试不同类型的设备。3680测试系统可灵活地在24个通用插槽内部署...

Chroma 3110-FT 三温测试分类机三温 测试分类机同时包含预温区，可改善测试时间及产出;配有2个自动分料盘及2个手动分料盘，在仅1.4平方米的空间发挥...

Chroma 3110 双用单站测试分类机3110 不 但适用于系统功能检测，也同时具备终端电性测 试的能力。可综合各元件的整体效能并执行测试 系统上的所有测试...

Chroma 36020 精密直流电源供应模块提供精密信号源和测量能力的电源供应器36020 使用组合开关和线性调节来提供优异的电压信号源与精准度。4个chan...

Chroma 3650 SoC测试系统软体测试环境CRISP（Chroma Integrated Software Plat form），是一个结合工程开发与量...